کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
9569582 | 1666336 | 2019 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Texture analysis and epitaxial relationships in Bi2Te3 thin film grown by physical vapor transport on silicon substrates
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Texture analysis and epitaxial relationships in Bi2Te3 thin film grown by physical vapor transport on silicon substrates Texture analysis and epitaxial relationships in Bi2Te3 thin film grown by physical vapor transport on silicon substrates](/preview/png/9569582.png)
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 464, 15 January 2019, Pages 280-286
Journal: Applied Surface Science - Volume 464, 15 January 2019, Pages 280-286
نویسندگان
Omar Concepción, Adolfo Tavira, Jorge Roque, Osvaldo de Melo, Arturo Escobosa,