![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Texture analysis and epitaxial relationships in Bi2Te3 thin film grown by physical vapor transport on silicon substrates
Keywords: انتقال بخار فیزیکی; Topological insulator; Bismuth telluride; Physical vapor transport; Interface;