کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
9572129 | 1388504 | 2005 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Morphological and elemental characterisation with the high-energy ion-nanoprobe LIPSION
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
This contribution deals with the morphological and elemental characterisation with high-energy (MeV) focused ion beams (in particular protons) with special emphasis on high spatial resolution in the sub-micrometer regime and very low minimum detection limits (sub-ppm) in trace element analysis. The most important methods like particle induced X-ray emission (PIXE), Rutherford backscattering spectrometry (RBS), as well as scanning transmission ion microscopy (STIM) and STIM-tomography will be illustrated by examples from material and life sciences.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 252, Issue 1, 30 September 2005, Pages 43-48
Journal: Applied Surface Science - Volume 252, Issue 1, 30 September 2005, Pages 43-48
نویسندگان
T. Butz, Ch. Meinecke, M. Morawski, T. Reinert, M. Schwertner, D. Spemann, J. Vogt,