کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
9595187 | 1507974 | 2005 | 9 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Photoelectron spectroscopy study of Ga1âxMnxAs(0Â 0Â 1) surface oxide and low temperature cleaning
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
X-ray photoemission spectroscopy has been used to study Ga0.933Mn0.067As surface cleaning using atomic hydrogen and ex situ HCl etching. Both cleaning techniques are found to reduce the Ga and As surface oxides. Quantitative compositional analysis indicates that a Mn rich surface contamination layer of average thickness 3-4Â Ã
remains in both cases. Beneath the contamination layer the bulk crystal is terminated with a 2Â Ã
thick As layer in the case of etching and a 0.9Â Ã
coverage of Ga for the atomic hydrogen cleaned case.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Surface Science - Volume 585, Issues 1â2, 1 July 2005, Pages 66-74
Journal: Surface Science - Volume 585, Issues 1â2, 1 July 2005, Pages 66-74
نویسندگان
S.A. Hatfield, T.D. Veal, C.F. McConville, G.R. Bell, K.W. Edmonds, R.P. Campion, C.T. Foxon, B.L. Gallagher,