کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
978068 | 933245 | 2007 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Structural complexity of disordered surfaces: Analyzing the porous silicon SFM patterns
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
ریاضیات
فیزیک ریاضی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Structural complexity of disordered surfaces: Analyzing the porous silicon SFM patterns Structural complexity of disordered surfaces: Analyzing the porous silicon SFM patterns](/preview/png/978068.png)
چکیده انگلیسی
This paper introduces a relative structural complexity measure for the characterization of disordered surfaces. Numerical solutions of 2d+1 KPZ equation and scanning force microscopy (SFM) patterns of porous silicon samples are analyzed using this methodology. The results and phenomenological interpretation indicate that the proposed measure is efficient for quantitatively characterize the structural complexity of disordered surfaces (and interfaces) observed and/or simulated in nano, micro and ordinary scales.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Physica A: Statistical Mechanics and its Applications - Volume 386, Issue 2, 15 December 2007, Pages 666-673
Journal: Physica A: Statistical Mechanics and its Applications - Volume 386, Issue 2, 15 December 2007, Pages 666-673
نویسندگان
R.R. Rosa, M.P.M.A. Baroni, G.T. Zaniboni, A. Ferreira da Silva, L.S. Roman, J. Pontes, M.J.A. Bolzan,