کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
9785987 | 1512662 | 2005 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Talbot-SNOM method for non-contact evaluation of high-density gratings
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
مواد الکترونیکی، نوری و مغناطیسی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
A Talbot scanning near-field optical microscopy (SNOM) method for non-contact evaluating of high-density gratings was described. This method combines the Talbot self-imaging effect of the gratings and the conventional SNOM technique without damage. The significant advantages of this method are its simple structure, reliable and fast measurement for the surface quality of the tested gratings. Experimental results of three different kinds of gratings were demonstrated to indicate that this method is effective for evaluation surface quality of high-density gratings.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Optics Communications - Volume 248, Issues 1â3, 1 April 2005, Pages 97-103
Journal: Optics Communications - Volume 248, Issues 1â3, 1 April 2005, Pages 97-103
نویسندگان
Hongxin Luo, Changhe Zhou, Hua Zou, Yunqing Lu,