کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
9786196 | 1512668 | 2005 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Mueller matrix determination for one-dimensional rough surfaces with a reduced number of measurements
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
مواد الکترونیکی، نوری و مغناطیسی
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
We apply the direct method of Mueller Matrix Ellipsometry (MME) to measure the Mueller matrix associated to a one-dimensional (1-D) rough surface. We show that for a 1-D surface, the complete Mueller matrix can be determined with four different intensity measurements, instead of six as actually are reported. The experimental Mueller matrix elements obtained for a 1-D random rough, metallic surface, by the reported method are undistinguishable from the measured by using our method.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Optics Communications - Volume 244, Issues 1â6, 3 January 2005, Pages 7-13
Journal: Optics Communications - Volume 244, Issues 1â6, 3 January 2005, Pages 7-13
نویسندگان
Gelacio Atondo-Rubio, Rafael Espinosa-Luna, Alberto Mendoza-Suárez,