کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
9816851 | 1518375 | 2005 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Method to detect the property of complex oxide structure formed by AFM anodic oxidation completely
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
Thin titanium film (3â¼8Â nm thick) can be oxidized completely with atomic force microscope anodic oxidation to form a metal-insulator-metal structure to fabricate various nanodevices. Whether the Ti film is oxidized down to the bottom is vital to the nanodevices. We have fabricated a delicate Ti oxide structure of two triangles on about 3Â nm thick Ti film. The theoretical calculation of the ratio of hox/dTi=0.58 indicates the Ti film has been oxidized completely.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 105, Issues 1â4, November 2005, Pages 111-114
Journal: Ultramicroscopy - Volume 105, Issues 1â4, November 2005, Pages 111-114
نویسندگان
Kuang Dengfeng, Liu Qinggang, Guo Weilian, Zhang Shilin, Hu Xiaotang,