کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
9816866 | 1518375 | 2005 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Contactless current measurements using a needle sensor
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Contactless current measurements using a needle sensor Contactless current measurements using a needle sensor](/preview/png/9816866.png)
چکیده انگلیسی
We present an improved method for measuring currents in packaged integrated circuits (IC) for the purpose of test and failure analysis. We use a quartz resonator, called needle sensor, to detect the magnetic field of the device under test (DUT). Thus, the measurement principle is similar to conventional magnetic force microscopy. Compared to a cantilever-based scanning force microscope the advantage of a needle sensor is the much easier test access because of its geometry. With this probe we realized current measurements with a sensitivity of 100 μA. The results are verified by using a simple model describing the basic principle of our measurement setup.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 105, Issues 1â4, November 2005, Pages 228-232
Journal: Ultramicroscopy - Volume 105, Issues 1â4, November 2005, Pages 228-232
نویسندگان
C. Hartmann, W. Mertin, G. Bacher,