کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
9817649 | 1518769 | 2005 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
X-ray fluorescence holography of 0.078Â wt% copper in silicon steel
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سطوح، پوششها و فیلمها
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
X-ray fluorescence holograms of 0.078 wt% Cu in silicon steel were measured at a synchrotron radiation facility, SPring-8. The present fluorescent X-ray detection system combining a toroidally bent graphite analyzer and an avalanche photodiode enables us to record high-quality holograms by eliminating a strong Fe fluorescence from the sample. The reconstructed atomic image around Cu shows a bcc lattice, which indicates the presence of Cu in an α-Fe lattice.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms - Volume 238, Issues 1â4, August 2005, Pages 192-195
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms - Volume 238, Issues 1â4, August 2005, Pages 192-195
نویسندگان
Kouichi Hayashi, Tetsutaro Hayashi, Yukio Takahashi, Shigeru Suzuki, Eiichiro Matsubara,