کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
9821483 | 1518985 | 2005 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Diffusion on the nanometer scale
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سطوح، پوششها و فیلمها
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Measurements providing experimental evidence for linear interface shift and interface sharpening, as typical diffusion phenomena on a nanoscale, in different bi- or multilayer systems (Si/Ge, Cu/Ni, Mo/V) and results of computer simulations are presented on the basis of the research experience of our group. Special emphasis is given to sample preparation and measuring techniques capable of diffusion measurements on the nanoscale.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Vacuum - Volume 80, Issues 1â3, 14 October 2005, Pages 87-91
Journal: Vacuum - Volume 80, Issues 1â3, 14 October 2005, Pages 87-91
نویسندگان
D.L. Beke, Z. Erdélyi, G.A. Langer, A Csik, G.L. Katona,