کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
9821593 | 1518988 | 2005 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Structural studies on ion-implanted semiconductors using X-ray synchrotron radiation: Strain evolution and growth of nanocrystals
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سطوح، پوششها و فیلمها
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
Another important issue is the analysis of nanocrystals. Diamond-SiC heterostructures produced by ion beam synthesis are considered as a promising technique for production of novel devices for high-power applications. Synthesized by ion bombardment nanocrystals that grow in the single crystalline matrix are highly oriented. As revealed by X-ray scattering, size and shape of nanocrystals, as well as incorporated strain depend on the ion implantation parameters.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Vacuum - Volume 78, Issues 2â4, 30 May 2005, Pages 303-309
Journal: Vacuum - Volume 78, Issues 2â4, 30 May 2005, Pages 303-309
نویسندگان
Frank Eichhorn, Jaroslaw Gaca, Viton Heera, Norbert Schell, Andrzej Turos, Hannes Weishart, Marek Wojcik,