![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Structural modifications of thin magnetic Permalloy films induced by ion implantation and thermal annealing: A comparison
Keywords: 75.20.In; X-ray diffraction; Anomalous diffraction; Ion beam implantation 68.65.-k; 75.20.En; 61.05.cp;