![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Deformation of single crystal sample using D-DIA apparatus coupled with synchrotron X-rays: In situ stress and strain measurements at high pressure and temperature
Keywords: B. اشعه ایکس; A. Inorganic compounds; B. X-ray diffraction; C. High pressure; D. Mechanical properties;