Keywords: FDSOI CMOS; Low power; Low voltage; Energy efficiency; Variability; Back-bias;
مقالات ISI (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Electrical characterization of Random Telegraph Noise in Fully-Depleted Silicon-On-Insulator MOSFETs under extended temperature range and back-bias operation
Keywords: Random Telegraph Noise; MOSFET; Silicon-On-Insulator; Reliability; Back-bias; Buried oxide;
Dual Ground Plane EDMOS in 28 nm FDSOI for 5 V power management applications
Keywords: FD-SOI; Extended-drain; MOSFET; EDMOS; Back-bias
Reliability of ultra-thin buried oxides for multi-VT FDSOI technology
Keywords: Reliability; Fully depleted SOI; Ultra-thin buried oxide; Dynamic threshold voltage; Back-bias