![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Imaging charge carriers in potential-induced degradation defects of c-Si solar cells by scanning capacitance microscopy
Keywords: سلول خورشیدی سی سی; c-Si solar cell; Potential-induced degradation; Scanning capacitance microscopy (SCM); Nano-electrical property;