![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Investigation of radiation damage in a Si PIN photodiode for particle detection
Keywords: کارایی جمع آوری شارژ; 29.40.Wk; 41.75.−I; 61.80.−x; 61.82.Fk; 72.20.JvRadiation hardness; IBIC; Si PIN photodiode; Microbeam; Charge collection efficiency