Keywords: مقیاس دستگاه; Device modeling; Device scaling; Simulation techniques; Quasi-ballistic transport; Quantum confinement;
مقالات ISI مقیاس دستگاه (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Keywords: مقیاس دستگاه; CMOS; Readout electronics; Noise; Device scaling; Radiation hardness;
Front-end electronics in a 65 nm CMOS process for high density readout of pixel sensors
Keywords: مقیاس دستگاه; CMOS; Device scaling; Ionizing radiation; Front-end electronics; Monolithic active pixel sensors
Introducing 65 nm CMOS technology in low-noise read-out of semiconductor detectors
Keywords: مقیاس دستگاه; CMOS; Readout electronics; Noise; Device scaling
Scaling projections for Sb-based p-channel FETs
Keywords: مقیاس دستگاه; Hole transport; Antimonides; p-Channel; Device scaling; Density-gradient theory; Complementary circuits
Device scaling of pseudo-vertical diamond power Schottky barrier diodes
Keywords: مقیاس دستگاه; Diamond; Schottky barrier diode; Operation limit; Defect; Device scaling
CMOS technologies in the 100Â nm range for rad-hard front-end electronics in future collider experiments
Keywords: مقیاس دستگاه; CMOS; Readout electronics; Noise; Device scaling; Front-end;
On-chip cache device scaling limits and effective fault repair techniques in future nanoscale technology
Keywords: مقیاس دستگاه; On-chip cache; Device scaling; Fault-tolerance; DVS
Design criteria for low noise front-end electronics in the 0.13 μm CMOS generation
Keywords: مقیاس دستگاه; 29.30.Kv; 84.30.−r; 85.30.De; 85.30.TvCMOS; Readout electronics; Noise; Device scaling; Front-end
Transistor challenges - A DRAM perspective
Keywords: مقیاس دستگاه; 85.30.âz; 85.30.Tv; 85.40.Ry; DRAM; CMOS device; Device scaling; Ion implant;