Keywords: فیلم دی الکتریک; Dielectric/ferroelectric heterostructure; Multilayer; Dielectric film; Ferroelectric film; Tunable resonator; Microwave
مقالات ISI فیلم دی الکتریک (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Keywords: فیلم دی الکتریک; Transmittance; Emissivity; Polarization; Dielectric film; Silicon wafer; Temperature;
Keywords: فیلم دی الکتریک; Mirror light pipe; Spectrophotometry; Color; Ray tracing; Integrating sphere; Dielectric film;
An enhanced alneal process to produce SRV < 1 cm/s in 1 Ω cm n-type Si
Keywords: فیلم دی الکتریک; Silicon photovoltaics; Surface passivation; Dielectric film; Alneal; Field effect;
Positive magnetoresistive effect in Si/SiO2(Cu/Ni) nanostructures
Keywords: فیلم دی الکتریک; Swift heavy ion track technology; Dielectric film; Nanostructures; Conduction mechanisms; Magnetoresistance; Magnetic field sensors
Self-consistent charging in dielectric films under defocused electron beam irradiation
Keywords: فیلم دی الکتریک; 73.61.Ng; 61.80.Fe; 02.60.Cb; Electron beam; Dielectric film; Electron transport; Space charge; Surface potential; Leakage current; Numerical simulation;
The positive charging effect of dielectric films irradiated by a focused electron beam
Keywords: فیلم دی الکتریک; 73.61.Ng; 79.20.HX; 02.60.Cb; Dielectric film; Electron beam irradiation; Charging effect; Space charge; Surface potential; Numerical simulation;
Layer by layer deposition of zirconium oxide onto silicon
Keywords: فیلم دی الکتریک; Dielectric film; Zirconium oxide; Layer-by-layer growth; Adsorption
Material properties of interfacial silicate layer and its influence on the electrical characteristics of MOS devices using hafnia as the gate dielectric
Keywords: فیلم دی الکتریک; Dielectric film; Hafnium oxide; Interface properties; Reliability
On the scaling issues and high-κ replacement of ultrathin gate dielectrics for nanoscale MOS transistors
Keywords: فیلم دی الکتریک; Dielectric film; High-κ; Hafnium oxide; MOS devices; Reliability; Nanoscale
Effects of deposition temperature on the structure and thermal stability of a-C:F films with low dielectric constant
Keywords: فیلم دی الکتریک; 77.55; 81.15; 68.60D; Dielectric film; Deposition temperature; Thermal stability;