کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10652230 | 1001995 | 2011 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Self-consistent charging in dielectric films under defocused electron beam irradiation
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
دانش مواد (عمومی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠Positive and negative space charges are distributed alternately. ⺠Leakage currents decrease to a stable value with increasing film thickness. ⺠Surface potential of thin films exhibits minimum negative value with variation of beam energy. ⺠Surface potential of thick films decreases with the increase in beam energy.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Micron - Volume 42, Issue 5, July 2011, Pages 443-448
Journal: Micron - Volume 42, Issue 5, July 2011, Pages 443-448
نویسندگان
Wei-Qin Li, Kun Mu, Rong-Hou Xia,