![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Keywords: الکترون پراکنده پراکندگی; EBSD; electron back-scatter diffraction; GBCD; grain boundary character distribution; KAM; kernel average misorientation; GAM; grain average misorientation; LAGB; low angle grain boundary; TEM; transmission electron microscopy; Cold-rolling; Misorientatio