دانلود مقالات ISI درباره طیف سنجی از دست دادن انرژی الکترون + ترجمه فارسی

Four-dimensional STEM-EELS: Enabling nano-scale chemical tomography

Keywords: طیف سنجی از دست دادن انرژی الکترون; Tomography; Electron energy-loss spectroscopy; Scanning transmission electron microscopy; Spectrum imaging; Tilt series

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 12 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Electron-impact excitations of the autoionizing states of bismuth

Keywords: طیف سنجی از دست دادن انرژی الکترون; 34.80.Dp; 32.80.DzBismuth atom; Autoionization; Electron energy-loss spectroscopy

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Grain-boundary plane orientation dependence of electrical barriers at Σ5 boundaries in SrTiO3

Keywords: طیف سنجی از دست دادن انرژی الکترون; Annealing; Electron energy-loss spectroscopy; Transmission electron microscopy; Strontium titanate; Grain-boundary structure

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

EELS analysis of {1 1 1} Σ3 and {1 1 2} Σ3 twin boundaries and their junctions in phosphor-doped cast polycrystalline silicon

Keywords: طیف سنجی از دست دادن انرژی الکترون; Silicon; Multicrystalline; Electron energy-loss spectroscopy

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Decisive factors for realizing atomic-column resolution using STEM and EELS

Keywords: طیف سنجی از دست دادن انرژی الکترون; Scanning transmission electron microscopy; Electron energy-loss spectroscopy; Spectrum imaging; Spatial resolution; Delocalization;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Decisive factors for realizing atomic-column resolution using STEM and EELS

Keywords: طیف سنجی از دست دادن انرژی الکترون; Scanning transmission electron microscopy; Electron energy-loss spectroscopy; Spectrum imaging; Spatial resolution; Delocalization

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Imaging Si nanoparticles embedded in SiO2 layers by (S)TEM-EELS

Keywords: طیف سنجی از دست دادن انرژی الکترون; 68.37.Lp; 79.20.Uv; 73.22.Lp; 61.46.Df; 81.07.−b; 85.30.−zTransmission electron microscopy; Electron energy-loss spectroscopy; Energy-filtered imaging; Plasmon; Si nanoparticles in silica layers; Non-volatile memories

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 12 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Characterization of nanostructured Ti-B-(N) coatings produced by direct current magnetron sputtering

Keywords: طیف سنجی از دست دادن انرژی الکترون; Ti-B-(N); Transmission electron microscopy; X-ray photoelectron spectroscopy; Sputtering; Electron energy-loss spectroscopy;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Electron energy-loss spectroscopy of the metals Pd, Cu and the ordered Cu75Pd25(1 0 0) alloy

Keywords: طیف سنجی از دست دادن انرژی الکترون; Electron energy-loss spectroscopy; Near surface region; Interband transition; Surface and bulk plasmons; Ionization loss; Energy-loss function; Cu75Pd25(1 0 0);

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 9 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Electronic excitations: Ab initio calculations of electronic spectra and application to zirconia ZrO2, titania TiO2 and cuprous oxide Cu2O

Keywords: طیف سنجی از دست دادن انرژی الکترون; Photoemission; Optical absorption; Electron energy-loss spectroscopy; Time-dependent density-functional theory; Ab initio electronic spectra

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 12 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Intercalated hydrogen in nanostructured graphite studied by electron energy-loss spectroscopy and molecular orbital calculations

Keywords: طیف سنجی از دست دادن انرژی الکترون; Hydrogen storage materials; Mechanochemical synthesis; Electron energy-loss spectroscopy

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Electron holography of thin amorphous carbon films: Measurement of the mean inner potential and a thickness-independent phase shift

Keywords: طیف سنجی از دست دادن انرژی الکترون; 68.37.Lp; 61.14.Nm; 81.05.UwTransmission electron microscopy; Electron holography; Mean inner coulomb potential; Surface potential; Amorphous carbon; Electron energy-loss spectroscopy

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Structure and composition of chemically prepared and vacuum annealed InSb(0 0 1) surfaces

Keywords: طیف سنجی از دست دادن انرژی الکترون; 73.61.Ey; 81.65.Rv; 81.65; 81.65.C; 68.35.Bs; InSb; HCl-isopropanol treatment; Passivation; Low energy electron diffraction; X-ray photoelectron spectroscopy; Electron energy-loss spectroscopy;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Composition fluctuations in dilute nitride (Ga,In)(N,As)/GaAs heterostructures measured by low-loss electron energy-loss spectroscopy

Keywords: طیف سنجی از دست دادن انرژی الکترون; 68.65.Fg; 68.55.Nq; 79.20Uv; 68.37.Lp; Electron energy-loss spectroscopy; (Ga, In)(N, As) epilayers; Composition fluctuation;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

A STEM/EELS method for mapping iron valence ratios in oxide minerals

Keywords: طیف سنجی از دست دادن انرژی الکترون; Electron energy-loss spectroscopy; EELS; Iron valence state; Ilmenite; Magnetite; Spectrum imaging; Valence maps

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 9 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Quantitative structural and textural assessment of laminar pyrocarbons through Raman spectroscopy, electron diffraction and few other techniques

Keywords: طیف سنجی از دست دادن انرژی الکترون; Pyrolytic carbons; Optical microscopy; Raman spectroscopy; Electron energy-loss spectroscopy

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 12 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Calcia partition in phase-separated intergranular glass and interfaces in doped silicon nitride produced by hot isostatic pressing

Keywords: طیف سنجی از دست دادن انرژی الکترون; Silicon nitride; Intergranular glass; Interface; Phase separation; Analytical electron microscopy; Electron energy-loss spectroscopy

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 15 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Water mapping in hydrated soft materials

Keywords: طیف سنجی از دست دادن انرژی الکترون; Electron energy-loss spectroscopy; Polymers; Scanning transmission electron microscopy; Water absorption

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 16 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Spontaneous oxide reduction in metal stacks

Keywords: طیف سنجی از دست دادن انرژی الکترون; 82.65.Dp; 68.35.Fx; 73.90.+f; 61.16.Bg; 82.80.Pv; Spontaneous oxide reduction; Interfaces; Transmission electron microscopy; Spectrum profile; Energy-dispersive spectroscopy; Electron energy-loss spectroscopy; Oxidation; Metallization;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

sp3/sp2 characterization of carbon materials from first-principles calculations: X-ray photoelectron versus high energy electron energy-loss spectroscopy techniques

Keywords: طیف سنجی از دست دادن انرژی الکترون; Carbon films; Electron energy-loss spectroscopy; X-ray photoelectron spectroscopy;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Ab initio calculations of plasmons and interband transitions in the low-loss electron energy-loss spectrum

Keywords: طیف سنجی از دست دادن انرژی الکترون; Electron energy-loss spectroscopy; Density-functional theory; Plasmon; Dielectric function; Loss-function; Interband transitions;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Titanium as coupling agent in SiC fibre reinforced copper matrix composites

Keywords: طیف سنجی از دست دادن انرژی الکترون; Copper; Titanium; Silicon carbide fibres; Metal matrix composites; Interlayers; Coatings; Electron energy-loss spectroscopy; Energy-loss near-edge structure; High resolution electron microscopy;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Chemical imaging: the distribution of ions and molecules in developing and mature wheat grain

Keywords: طیف سنجی از دست دادن انرژی الکترون; Wheat; Grain development; Microscopy; Spectroscopy; EDX; energy-dispersive X-ray analysis; EELS; electron energy-loss spectroscopy; FPA; focal plane array; FT-IR; Fourier-transform infrared; FT-Raman; Fourier-transform Raman; HMW; high molecular weight; M

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 9 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Characterization of advanced gate stacks for Si CMOS by electron energy-loss spectroscopy in scanning transmission electron microscopy

Keywords: طیف سنجی از دست دادن انرژی الکترون; Electron energy-loss spectroscopy; Gate dielectrics; Z-contrast imaging; STEM;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 10 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه