![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Keywords: خصوصیات در محل; Nanoprobing; Probing; NBTI; PBTI; BTI; In-situ characterization; Induced aging; Transistor aging; Transistor degradation; SRAM; AFM; HCI; TDDB; RTN; Operating lifetime; Localized variation; Intra-die comparison; Inter-die comparison;