![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Atomic resolution imaging of YAlO3: Ce in the chromatic and spherical aberration corrected PICO electron microscope
Keywords: High-resolution transmission electron microscopy; Information limit; Aberration correction; Image simulation; Absolute contrast matching;