کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8038520 | 1518357 | 2012 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Assessment of lower-voltage TEM performance using 3D Fourier transform of through-focus series
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
⺠We assess the performance of TEM using 3D Fourier transform of through-focus images. ⺠The method can discriminate between the linear and non-linear TEM imaging terms. ⺠High resolution of 98 pm is achieved using 80 kV Cs-corrected TEM with monochromator. ⺠We also revisit the Young fringe method in the light of the 3D Fourier transform.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 121, October 2012, Pages 31-37
Journal: Ultramicroscopy - Volume 121, October 2012, Pages 31-37
نویسندگان
Koji Kimoto, Keiji Kurashima, Takuro Nagai, Megumi Ohwada, Kazuo Ishizuka,