کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
8038520 1518357 2012 7 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Assessment of lower-voltage TEM performance using 3D Fourier transform of through-focus series
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Assessment of lower-voltage TEM performance using 3D Fourier transform of through-focus series
چکیده انگلیسی
► We assess the performance of TEM using 3D Fourier transform of through-focus images. ► The method can discriminate between the linear and non-linear TEM imaging terms. ► High resolution of 98 pm is achieved using 80 kV Cs-corrected TEM with monochromator. ► We also revisit the Young fringe method in the light of the 3D Fourier transform.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 121, October 2012, Pages 31-37
نویسندگان
, , , , ,