Keywords: بیضه سنجی اسپکتروسکوپی مادون قرمز; Aluminum nitride; Pulsed laser deposition; Fourier transform infrared spectroscopy; Infrared spectroscopic ellipsometry; Nanocrystallite c-axis orientation; Berreman effect;
مقالات ISI بیضه سنجی اسپکتروسکوپی مادون قرمز (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Keywords: بیضه سنجی اسپکتروسکوپی مادون قرمز; FTIR-microscopy; Infrared spectroscopic ellipsometry; Molecular orientation; Thickness; Polymer film; Silicon oxide; Homogeneity;
Infrared optical properties of ferroelectric 0.5BaZr0.2Ti0.8O3–0.5Ba0.7Ca0.3TiO3 thin films
Keywords: بیضه سنجی اسپکتروسکوپی مادون قرمز; Ferroelectric; Infrared spectroscopic ellipsometry; Refractive index; Extinction coefficient
Free-charge carrier parameters of n-type, p-type and compensated InN:Mg determined by infrared spectroscopic ellipsometry
Keywords: بیضه سنجی اسپکتروسکوپی مادون قرمز; Infrared spectroscopic ellipsometry; Mg-doped InN; P-type; Compensation; Free-charge carrier parameters;
Morphology and molecular orientation of ethyl-substituted dicyanovinyl-sexithiophene films for photovoltaic applications
Keywords: بیضه سنجی اسپکتروسکوپی مادون قرمز; Oligothiophene; Infrared spectroscopic ellipsometry; Molecular orientation; Morphology; Organic solar cell
Investigation of optical properties of benzocyclobutene wafer bonding layer used for 3D interconnects via infrared spectroscopic ellipsometry
Keywords: بیضه سنجی اسپکتروسکوپی مادون قرمز; 3D interconnects; Benzocyclobutene; Infrared spectroscopic ellipsometry; Scanning acoustic microscopy; Wafer bonding; Curing;
Passivation of Si(111) surfaces with electrochemically grafted thin organic films
Keywords: بیضه سنجی اسپکتروسکوپی مادون قرمز; Infrared spectroscopic ellipsometry; IRSE; Thin films; Electrochemistry; Silicon; Interface; Oxidation; HF;
Combined ellipsometry and X-ray related techniques for studies of ultrathin organic nanocomposite films
Keywords: بیضه سنجی اسپکتروسکوپی مادون قرمز; Optical simulations; Infrared spectroscopic ellipsometry; Synchrotron; X-ray standing waves; Surface modification
Low temperature growth of manganese cobalt nickelate films by chemical deposition
Keywords: بیضه سنجی اسپکتروسکوپی مادون قرمز; Manganese cobalt nickelate film; X-ray diffraction; Atomic force microscopy; Infrared spectroscopic ellipsometry
Ultrathin polypyrrole films on silicon substrates
Keywords: بیضه سنجی اسپکتروسکوپی مادون قرمز; Polypyrrole; Electrodeposition; Silicon; Passivation; Photoluminescence; Infrared spectroscopic ellipsometry
Interface properties and passivation of p-Si(1 1 1) surfaces by electrochemical organic layer deposition
Keywords: بیضه سنجی اسپکتروسکوپی مادون قرمز; Organic layer; Electrochemical deposition; Photoluminescence; Passivation; Photovoltage; Infrared Spectroscopic ellipsometry