![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
The interface states and series resistance analyzing of Au/SiO2/n-GaAs at high temperatures
Keywords: لایه عایق; Au/SiO2/GaAs Schottky diodes; Interface states; Insulator layer; I-V characteristics;