![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Kelvin force and Raman microscopies of flat SiGe structures with different compositions grown on Si(111) at high temperatures
Keywords: میکروسکوپ نیروی کلوین; Lateral Si/Ge heterostructures; High-temperature growth; Kelvin force microscopy; Raman microscopy; Surface potential distribution;