Keywords: عمق فرار متوسط; Hard x-ray photoelectron spectroscopy (HAXPES); Linearly polarized synchrotron radiation; Simulation of photoelectron transport; Mean escape depth; Information depth; Effective attenuation length;
مقالات ISI عمق فرار متوسط (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Keywords: عمق فرار متوسط; X-ray photoelectron spectroscopy; Photoelectron transport theory; High energy laboratory X-ray sources; Emission depth distribution function; Information depth; Mean escape depth;
Parameterization of HAXPES photoelectrons with kinetic energies up to 10Â keV
Keywords: عمق فرار متوسط; Hard X-ray photoelectron spectroscopy (HAXPES); High energy laboratory X-ray sources; Photoelectron signal intensity; Mean escape depth; Effective attenuation length;
Calculations of mean escape depths of photoelectrons in elemental solids excited by linearly polarized X-rays for high-energy photoelectron spectroscopy
Keywords: عمق فرار متوسط; High-energy photoelectron spectroscopy; Mean escape depth; Linearly polarized X-rays; Asymmetry parameter;
The role of helium ion microscopy in the characterisation of complex three-dimensional nanostructures
Keywords: عمق فرار متوسط; Helium ion microscopy; Resolution; Mean escape depth; Amorphous carbon; STEM; Nano-composite
Progress in quantitative surface analysis by X-ray photoelectron spectroscopy: Current status and perspectives
Keywords: عمق فرار متوسط; XPS; Surface analysis; Inelastic mean free path; Attenuation length; Mean escape depth; Information depth; Surface composition; Film thickness; Quantitative analysis;
Surface sensitivity of X-ray photoelectron spectroscopy
Keywords: عمق فرار متوسط; Effective attenuation length; Inelastic mean free path; Mean escape depth; Surface sensitivity; X-ray photoelectron spectroscopy;