دانلود مقالات ISI درباره بی ثباتی درجه حرارت تعادلی منفی + ترجمه فارسی

نظارت بر قابلیت اطمینان سطح سریع به عنوان یک ابزار برای دستیابی به کیفیت خودرو برای پردازش ویفر

Fast wafer level reliability monitoring as a tool to achieve automotive quality for a wafer process

Keywords: بی ثباتی درجه حرارت تعادلی منفی; Fast wafer level reliability; Oxide breakdown; Negative bias temperature instability; Electromigration; Ring oscilator; Test structures; Plasma induced charging damage; Hot carrier stress; Well charging; Reliability monitoring;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 11 صفحه سال انتشار : 2016 سفارش ترجمه

Integrated modeling of Self-heating of confined geometry (FinFET, NWFET, and NSHFET) transistors and its implications for the reliability of sub-20 nm modern integrated circuits

Keywords: بی ثباتی درجه حرارت تعادلی منفی; Self heating effect; Thermal compact model; Effective medium theory; Negative bias temperature instability; Hot carrier degradation; Electromigration;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 12 صفحه سال انتشار : 2018 سفارش ترجمه

Impact of NBTI induced variations on delay locked loop multi-phase clock generator

Keywords: بی ثباتی درجه حرارت تعادلی منفی; Clock generator; Delay locked loop; Mitigation; Negative bias temperature instability; Threshold voltage; Variability

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2016 سفارش ترجمه

NBTI-aware adaptive minimum leakage vector selection using a linear programming approach

Keywords: بی ثباتی درجه حرارت تعادلی منفی; Leakage power; Input vector control; Negative bias temperature instability; Support vector regression; Linear programming.

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 12 صفحه سال انتشار : 2016 سفارش ترجمه

Influence of bias and temperature conditions on NBTI physical mechanisms in p-channel power U-MOSFETs

Keywords: بی ثباتی درجه حرارت تعادلی منفی; Negative Bias Temperature Instability; Oxide charge trapping; Interface state generation; Recovery mechanisms; Stress condition; U-MOSFET

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2015 سفارش ترجمه

New insight on negative bias temperature instability degradation with drain bias of 28 nm High-K Metal Gate p-MOSFET devices

Keywords: بی ثباتی درجه حرارت تعادلی منفی; Drain bias; Forward and reverse asymmetry; Negative bias temperature instability; Non-uniform stress

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2014 سفارش ترجمه

Understanding negative bias temperature instability in the context of hole trapping (Invited Paper)

Keywords: بی ثباتی درجه حرارت تعادلی منفی; Negative bias temperature instability; Reliability; Modeling hole trapping; Oxide charges; Interface states

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Time-dependent degradation due to negative bias temperature instability of p-MOSFET with an ultra-thin SiON gate dielectric

Keywords: بی ثباتی درجه حرارت تعادلی منفی; Reliability of MOSFET; Oxynitride gate dielectric; Negative bias temperature instability; Interface state; Threshold voltage

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Negative bias temperature instability (NBTI) in SiO2 and SiON gate dielectrics understood through disorder-controlled kinetics

Keywords: بی ثباتی درجه حرارت تعادلی منفی; silicon dioxide; silicon oxynitride; negative bias temperature instability; dispersive transport; hydrogen;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه