Keywords: میکروسکوپ نیروی اتمی بدون تماس; Quartz tuning fork; Non-contact atomic force microscopy; Quantitative nanomechanical measurement; Calibration method;
مقالات ISI میکروسکوپ نیروی اتمی بدون تماس (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Keywords: میکروسکوپ نیروی اتمی بدون تماس; AES; auger electron spectroscopy; AFM; atomic force microscopy; APDBs; antiphase domain boundaries; CEMS; conversion electron Mössbauer spectroscopy; CTR; crystal truncation rod; DBT; distorted bulk truncation; DFT; density functional theory; DFT+U; dens
Keywords: میکروسکوپ نیروی اتمی بدون تماس; AP-XPS; ambient pressure x-ray photoelectron spectroscopy; AR-MSRI; angle resolved mass spectrometry of recoiled ions; DFT; density functional theory; DRS; direct recoil spectroscopy; FTIR; Fourier transform infrared spectroscopy; GGA; generalized gradien
Non-contact atomic force microscopy characterization of micro-cantilevers and piezo electric transducers with frequencies up to the tens of MHz
Keywords: میکروسکوپ نیروی اتمی بدون تماس; Non-contact atomic force microscopy; Resonance measurement; Very high frequency;
Non-contact atomic force microscopy studies of (2 Ã 4) InP(0 0 1) surface
Keywords: میکروسکوپ نیروی اتمی بدون تماس; Indium phosphide; InP; III-V semiconductors; Non-contact atomic force microscopy; NCAFM; Atomic surface structure; Surface reconstruction;
Nanoscale materials patterning and engineering by atomic force microscopy nanolithography
Keywords: میکروسکوپ نیروی اتمی بدون تماس; AFM; atomic force microscopy; cAFM; conductive atomic force microscopy; CNT; carbon nanotube; 2DEG; two-dimensional electron gas; DPN; dip-pen nanolithography; EDPN; electrochemical dip-pen nanolithography; F-N; Fowler-Nordheim; HMDS; hexamethyldisila
Non-contact atomic force microscopy study of the Sn/Si(1Â 1Â 1) mosaic phase
Keywords: میکروسکوپ نیروی اتمی بدون تماس; 68.37.Ps; 68.35.Bs; 39.25+k; 39.30.+w; 62.25.+g; Non-contact atomic force microscopy; NC-AFM; Atomic resolution; Atom identification; Si; Sn; Charge transfer;