کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
9567506 | 1503718 | 2005 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Non-contact atomic force microscopy study of the Sn/Si(1Â 1Â 1) mosaic phase
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
We have analyzed the height dependence of the Si and Sn atoms on the 1/6 monolayer (ML) Sn/Si(1 1 1)-(â3 Ã â3)R30° surface, also known as Sn/Si(1 1 1) mosaic phase, by means of non-contact atomic force microscopy (NC-AFM) technique. By preparing samples in which the Sn/Si(1 1 1) mosaic phase and the Si(1 1 1)-(7 Ã 7) surfaces coexist, and taking account of the proportion of bright and dim contrast atoms when comparing NC-AFM images of both surfaces, we have been able to discriminate between the two atom species forming the mosaic phase. Additionally, we have found a pronounced variation of the height of the Si adatoms with the number of first neighboring Sn adatoms in the Sn/Si(1 1 1) mosaic phase.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 241, Issues 1â2, 28 February 2005, Pages 23-27
Journal: Applied Surface Science - Volume 241, Issues 1â2, 28 February 2005, Pages 23-27
نویسندگان
Y. Sugimoto, M. Abe, K. Yoshimoto, O. Custance, I. Yi, S. Morita,