Keywords: تخریب اکسید; Flash memory; SuperFlash; Non-volatile memory; Floating gate; Hot electron; Oxide degradation; Charge trapping; Single electron;
مقالات ISI تخریب اکسید (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Non volatile memory reliability evaluation based on oxide defect generation rate during stress and retention test
Keywords: تخریب اکسید; EEPROM; SILC; Reliability; Oxide degradation; Endurance and retention tests;