کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
748584 1462254 2012 5 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Non volatile memory reliability evaluation based on oxide defect generation rate during stress and retention test
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه سایر رشته های مهندسی مهندسی برق و الکترونیک
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Non volatile memory reliability evaluation based on oxide defect generation rate during stress and retention test
چکیده انگلیسی
► Non Volatile Memory (NVM) reliability. ► Non Volatile Memory (NVM) design and test. ► Emerging memories (Resistive RAMs). ► Yield optimization and failure analysis. ► Fault modeling and simulation.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Solid-State Electronics - Volume 78, December 2012, Pages 151-155
نویسندگان
, , , , , ,