![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Identification of the (âEÂ +Â 1/E)-dependence of porous low-k time dependent dielectric breakdown using over one year long package level tests
Keywords: پوسته پوسته کم; Porous low-k; Reliability; TDDB; Lifetime model;