دانلود مقالات ISI درباره طیف سنجی جرم یونی ثانویه + ترجمه فارسی

IBA and SIMS coupling to study glass alteration mechanisms

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه; 61.16.Ch; 61.80.Jh; 81.05.Je; 81.65.b; 81.70.Jb; 82.80.YcChemical durability; Rutherford backscattering; Secondary ion mass spectroscopy; Oxide glasses; Borosilicates

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 9 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Effect of organic acid vapors on the alteration of soda silicate glass

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه; 61.43.Fs; 68.35.Fx; 78.30.−j; 81.40.CdCorrosion; Archaeology; Secondary ion mass spectroscopy; Optical microscopy; Scanning electron microscopy; Raman spectroscopy; Alkali silicates; Soda-lime-silica

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 14 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Dielectric properties of nitric oxide-annealed gate oxides grown on nitrogen-implanted silicon substrates

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه; Nitric oxide (NO); Nitrogen-implanted silicon substrate (NIS); Nitrided oxide; Transmission electron microscopy; Secondary ion mass spectroscopy; Implantation; Gates oxides

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Sharp n-type doping profiles in Si/SiGe heterostructures produced by atomic hydrogen etching

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه; Molecular beam epitaxy; Secondary ion mass spectroscopy; X-ray diffraction; Surface segregation; Growth;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Investigations on oxygen diffusion in annealing processes of non-stoichiometric amorphous indium tin oxide thin films

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه; Indium tin oxide; Heat treatment; Secondary ion mass spectroscopy; Oxidation; Crystallization; X-ray diffraction

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Study of nitrogen ion implantation and diffusion phenomena on thin chromium layers followed by the atomic force microscopy and secondary ion mass spectroscopy techniques characterization

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه; Atomic force microscopy; Secondary ion mass spectroscopy; X-ray diffraction; Scanning probe microscopy; Lateral force microscopy;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

SIMS direct surface imaging of Cu1−xCrx formation

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه; 61.80.Fe Electrons and positron radiation effects; 61.82.Bg Metals and alloys; 82.80.Ms Mass spectrometry (including SIMS, …); 64.60.My Metastable phases; Electron bombardment; Secondary ion mass spectroscopy; Copper; Chromium; Compound formation;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 9 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

DIET in highly charged ion interaction with silicon surfaces

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه; DIET; LEED; Secondary ion mass spectroscopy; Ion-solid interactions; Hydrogen atom; Hydrogen molecule; Silicon;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Instantaneous surface work function dependence of MCsn+ molecular ion emission under varying Cs environments

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه; 79.20.Rf; 68.49.Sf; Sputtering; Ion emission; Secondary ion mass spectroscopy; Energy spectra;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

XPS, TDS and static SIMS studies of binary Pd/Al system properties: correlation between Pd-Al bimetallic interaction and CO adsorption

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه; 82.80.Pv; 82.80.Ms; 82.65.Jv; 81.05.Bx; X-ray photoelectron spectroscopy; Thermal desorption spectroscopy; Secondary ion mass spectroscopy; Catalysis; Aluminum; Palladium; Alloys; Carbon monoxide;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Study of the surface modification of a Nylon-6,6 film processed in an atmospheric pressure air dielectric barrier discharge

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه; X-ray photoelectron spectroscopy; Plasma processing; Secondary ion mass spectroscopy; 52.75.Rx; 61.14.Qp; 68.10.Cr; 81.05.Lg; 81.65.-b;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Chemical imaging: the distribution of ions and molecules in developing and mature wheat grain

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه; Wheat; Grain development; Microscopy; Spectroscopy; EDX; energy-dispersive X-ray analysis; EELS; electron energy-loss spectroscopy; FPA; focal plane array; FT-IR; Fourier-transform infrared; FT-Raman; Fourier-transform Raman; HMW; high molecular weight; M

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 9 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

TOF-SIMS analysis of ion-water interactions

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه; 81.05.Kf; 61.25.Em; 66.30.Pa; 68.35.Rh; 68.49.Sf; 79.20.Rf; 82.80.Ms; Water; Hydronium; Proton; Hydrogen chloride; Glass transition; Secondary ion mass spectroscopy;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 9 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Chemical structure and morphology of thin bilayer and composite organosilicon and fluorocarbon microwave plasma polymer films

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه; Fourier transform infrared spectroscopy; Secondary ion mass spectroscopy; Scanning electron microscopy; Photoelectron spectroscopy; Microwave; Composite;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 10 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Lattice and grain boundary diffusion of cations in 3YTZ analyzed using SIMS

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه; Zirconia; Secondary ion mass spectroscopy; Grain boundary diffusion; Creep; Superplasticity

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 11 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه

Molecular beam experiments on model catalysts

Keywords: طیف سنجی جرم یونی ثانویه; AES; Auger electron spectroscopy; AFM; atomic force microscopy; AIS; autoionization spectroscopy; ARUPS; angle-resolved ultraviolet photoelectron spectroscopy; DFT; density functional theory; DI; direct inelastic; EBL; electron beam lithography; EELS; ele

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 142 صفحه سال انتشار : 2005 سفارش ترجمه