Keywords: ناراحتی یک رویداد; Simulation; Single-event effect; SRAM; Single-event upset; SOI; Experiment; Neutron;
مقالات ISI ناراحتی یک رویداد (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Adaptive single-event effect mitigation for dependable processing systems based on FPGAs
Keywords: ناراحتی یک رویداد; Adaptive mitigation; Performability; Single-event upset; TMR; Block RAM; Radiation analysis; Partial reconfiguration; On-board processor; Satellite communication; Virtex-5QV; Mean time to repair;
SET and SEU performance of single, double, triple and quadruple-gate junctionlessFETs using numerical simulations
Keywords: ناراحتی یک رویداد; Bipolar amplification; Heavy ion; Junctionless; Multi-gate; Single-event upset; TCAD;
FDSOI and Bulk CMOS SRAM Cell Resilience to Radiation Effects
Keywords: ناراحتی یک رویداد; FDSOI; Radiation; Heavy-ion; Single-event Effects; SET; SEU; Single-Event Transient; Single-Event Upset; TCAD;
Heavy-ion irradiation study in SOI-based and bulk-based junctionless FinFETs using 3D-TCAD simulation
Keywords: ناراحتی یک رویداد; Bipolar amplification; Charge collection; Heavy ion; Junctionless; Bulk; SOI; Single-event upset; TCAD
Single-event upset in geostationary transfer orbit during solar-activity maximum period measured by the Tsubasa satellite
Keywords: ناراحتی یک رویداد; Space radiation environment; Single-event upset; Geostationary transfer orbit;
Neutron-induced soft error rate measurements in semiconductor memories
Keywords: ناراحتی یک رویداد; 28.20.FcSoft error; Single-event upset; SEU; Soft error rate (SER); Accelerated soft error testing; Neutron; Nuclear research reactor
Operational experience of the CDF1 Run II silicon detector
Keywords: ناراحتی یک رویداد; Silicon vertex detector; CDF; Tevatron; Single-event upset; Radiation damage