Keywords: اندازه گیری مشخصات سطح; Surface profile measurement; Optical interferometry;
مقالات ISI اندازه گیری مشخصات سطح (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Keywords: اندازه گیری مشخصات سطح; Interferometry; Spatial spectral filter; Profilometry; Fourier optics; Optical metrology; Surface profile measurement;
Keywords: اندازه گیری مشخصات سطح; Interferometry; Surface profile measurement; Optical coherence tomography; Wavelet transform;
3-D surface profile measurement using spectral interferometry based on continuous wavelet transform
Keywords: اندازه گیری مشخصات سطح; Interferometry; Wavelet transform; Surface profile measurement; Phase extraction; Signal processing;
Upgrade of long trace profiler for characterization of high-precision X-ray mirrors at SPring-8
Keywords: اندازه گیری مشخصات سطح; Long trace profiler; Surface profile measurement; Optical metrology; X-ray mirror; Synchrotron radiation
Optical measurement of thermal deformation of multilayer optics under synchrotron radiation
Keywords: اندازه گیری مشخصات سطح; 7.85.Qe; 65.40.De; 42.87.âd; Synchrotron radiation; High heat-load optics; Heat bump; Surface profile measurement; Optical metrology;
In situ visualization of thermal distortions of synchrotron radiation optics
Keywords: اندازه گیری مشخصات سطح; 07.85.Qe; 65.40.De; 42.87.−dSynchrotron radiation; High heat-load optics; Heat bump; Surface profile measurement; Optical metrology
Measurement of surface profile in vibrating environment with instantaneous phase shifting interferometry
Keywords: اندازه گیری مشخصات سطح; Surface profile measurement; Instantaneous phase shifting; Modified Michelson interferometer; Vibrating environment
Development of a high-precision surface metrology system using structured light projection
Keywords: اندازه گیری مشخصات سطح; Structured light; Projector calibration; Surface profile measurement; Digital micro-mirrors device (DMD); Sub-pixel edge detection; Line-shifting;