Keywords: انحنای ویفر; Diffusion; Semiconductors; Residual stress; Wafer curvature
مقالات ISI انحنای ویفر (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Keywords: انحنای ویفر; Aluminium nitride; Residual stress; X-ray diffraction; Infra-red absorption; Wafer curvature
Keywords: انحنای ویفر; Calcium phosphate; Radio frequency (RF) magnetron sputtering; Residual stress; X-ray diffraction; Wafer curvature
Keywords: انحنای ویفر; Stress; Residual stress; Thin films; Wafer curvature; Polycrystalline; Deposition
Keywords: انحنای ویفر; Porous silicon; Radiofrequency devices; Strain; Wafer curvature;
Matching in-situ and ex-situ recorded stress gradients in an AlxGa1 â xN Heterostructure: Complementary wafer curvature analyses in time and space
Keywords: انحنای ویفر; GaN; Ion beam layer removal method; Heterostructure; Wafer curvature; Residual stress;
Evaluation of 3C-SiC/Si residual stress and curvatures along different wafer direction
Keywords: انحنای ویفر; 3C-SiC; Hetero-epitaxy; Wafer curvature
A kinetic analysis of residual stress evolution in polycrystalline thin films
Keywords: انحنای ویفر; Stress; Residual stress; Thin films; Wafer curvature; Polycrystalline; Deposition
Celebrating the 100th anniversary of the Stoney equation for film stress: Developments from polycrystalline steel strips to single crystal silicon wafers
Keywords: انحنای ویفر; Stress; Thin film; Coating; Stoney; Elastic anisotropy; Silicon; Wafer curvature
In situ stress measurements during the electrochemical adsorption/desorption of self-assembled monolayers
Keywords: انحنای ویفر; Surface stress; Self-assembled monolayers; EQNB; Wafer curvature; Reductive desorption
Stress and strain in polycrystalline thin films
Keywords: انحنای ویفر; Stress; Strain; Thin films; Coatings; Wafer curvature