کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10364242 | 871565 | 2005 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Temperature and bias investigation of self heating effect and threshold voltage shift in pHEMT's
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
The output IâV characteristics of our devices are also affected by the threshold voltage shift. It results that the threshold voltage increases linearly by decreasing the temperature. This threshold voltage shift causes a decrease of the transconductance when the devices is biased closer to the pinch-off. Consequently, the forward transmission parameter S21 at microwaves shows a degradation at lower temperatures despite the fact that the transport properties improve upon cooling.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Journal - Volume 36, Issue 8, August 2005, Pages 732-736
Journal: Microelectronics Journal - Volume 36, Issue 8, August 2005, Pages 732-736
نویسندگان
M. Alvaro, A. Caddemi, G. Crupi, N. Donato,