کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10411743 | 894788 | 2005 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Comparison of transport properties in carbon nanotube field-effect transistors with Schottky contacts and doped source/drain contacts
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
سایر رشته های مهندسی
مهندسی برق و الکترونیک
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
In this Letter, we present a simulation study of the electrical characteristics of ultimately scaled carbon nanotube field-effect transistors. Devices with Schottky contacts and doped source/drain contacts are compared. We show that for small bias devices with doped source/drain contacts exhibit a better on- as well as off-state compared to devices with Schottky contacts. Both device types, however, show a poor off-state for larger bias. We will discuss the relevant transport mechanisms involved and explain our observations.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Solid-State Electronics - Volume 49, Issue 1, January 2005, Pages 73-76
Journal: Solid-State Electronics - Volume 49, Issue 1, January 2005, Pages 73-76
نویسندگان
J. Knoch, S. Mantl, J. Appenzeller,