کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10413346 | 895562 | 2005 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
A comprehensive study of carrier velocity modulation in DGSOI transistors
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
سایر رشته های مهندسی
مهندسی برق و الکترونیک
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
Velocity modulation transistors (VMT) are proposed as a way to explode short transit time between two adjacent channels with different transport properties in order to obtain a fast switch. Originally proposed for III-V heterostructures, a Monte Carlo study of silicon-based VMTs is presented in this work showing that surface roughness in double-gate silicon-on-insulator devices can be used as a mobility degradation mechanism to obtain current ratios higher than 30 and therefore feasible devices. Transient simulations have been also carried out obtaining sub-picosecond switch times for 0.1 μm gate length. Switch time limitations are also discussed including both intrinsic and extrinsic factors.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Solid-State Electronics - Volume 49, Issue 9, September 2005, Pages 1504-1509
Journal: Solid-State Electronics - Volume 49, Issue 9, September 2005, Pages 1504-1509
نویسندگان
C. Sampedro, F. Gámiz, A. Godoy, M. Prunnila, J. Ahopelto,