کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10418763 | 903243 | 2012 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Impurity removal and overall rate constant during low pressure treatment of liquid silicon
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
سایر رشته های مهندسی
مهندسی صنعتی و تولید
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠Vacuum refining of Si simulating industrial environment is investigated. ⺠Fundamental data regarding elemental vapor pressure in Si is summarized. ⺠Fundamental data for overall rate constant substantial for kinetic analyses were experimentally confirmed for 11 elements at four different melt temperatures. ⺠New experimental data for concentration of 28 elements in liquid silicon for various temperatures is provided. ⺠Refractory material for ultra-pure Si treatment is analyzed and recommended.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Materials Processing Technology - Volume 212, Issue 1, January 2012, Pages 78-82
Journal: Journal of Materials Processing Technology - Volume 212, Issue 1, January 2012, Pages 78-82
نویسندگان
Aleksandar M. MitraÅ¡inoviÄ, Ryan D'Souza, Torstein A. Utigard,