کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10672474 | 1009859 | 2015 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
New approaches to nanoparticle sample fabrication for atom probe tomography
ترجمه فارسی عنوان
روشهای جدید برای ساخت نمونه های نانوذرات برای توموگرافی پروب اتم
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
توموگرافی پروب اتم نانوذرات، آماده سازی نمونه، پرتو یون متمرکز شده،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
چکیده انگلیسی
In order to achieve this, the nanomaterial needs to be positioned within the end of a tip and fixed there so the sample possesses sufficient structural integrity for analysis. Here we provide a detailed description of various techniques that have been used to position nanoparticles on substrates for atom probe analysis. In some of the approaches, this is combined with deposition techniques to incorporate the particles into a solid matrix, and focused ion beam processing is then used to fabricate atom probe samples from this composite. Using these approaches, data has been achieved from 10-20 nm core-shell nanoparticles that were extracted directly from suspension (i.e. with no chemical modification) with a resolution of better than ±1 nm.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 159, Part 2, December 2015, Pages 413-419
Journal: Ultramicroscopy - Volume 159, Part 2, December 2015, Pages 413-419
نویسندگان
P. Felfer, T. Li, K. Eder, H. Galinski, A.P. Magyar, D.C. Bell, G.D.W. Smith, N. Kruse, S.P. Ringer, J.M. Cairney,