کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10672508 | 1009866 | 2015 | 12 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Height-resolved quantification of microstructure and texture in polycrystalline thin films using TEM orientation mapping
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
The spatial correlation of the entire data set gives insights into previously unnoticed growth mechanisms such as the presence of renucleation or preferred misorientations. Finally, the data set can be used to guide targeted, local studies by other transmission electron microscopy techniques. This is demonstrated by the site-specific application of nano-beam diffraction to validate the presence of coherent [21¯1¯0]/(011¯3) twin boundaries first suggested by the orientation mapping.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 159, Part 1, December 2015, Pages 112-123
Journal: Ultramicroscopy - Volume 159, Part 1, December 2015, Pages 112-123
نویسندگان
A. Brian Aebersold, Duncan T.L. Alexander, Cécile Hébert,