کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
10672524 1009916 2011 10 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Projected thickness reconstruction from a single defocused transmission electron microscope image of an amorphous object
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Projected thickness reconstruction from a single defocused transmission electron microscope image of an amorphous object
چکیده انگلیسی
► We reconstruct the projected thickness of a specimen using a phase retrieval technique. ► The technique requires a single out-of-focus phase contrast transmission electron micrograph. ► We demonstrate this technique is quantitative using simulation and experiment. ► We discuss the technique's realm of application and its nominal resolution. ► We employ this technique to measure the size of voids in latex sphere test objects.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issue 8, July 2011, Pages 959-968
نویسندگان
, , , ,