کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10672524 | 1009916 | 2011 | 10 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Projected thickness reconstruction from a single defocused transmission electron microscope image of an amorphous object
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
⺠We reconstruct the projected thickness of a specimen using a phase retrieval technique. ⺠The technique requires a single out-of-focus phase contrast transmission electron micrograph. ⺠We demonstrate this technique is quantitative using simulation and experiment. ⺠We discuss the technique's realm of application and its nominal resolution. ⺠We employ this technique to measure the size of voids in latex sphere test objects.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issue 8, July 2011, Pages 959-968
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issue 8, July 2011, Pages 959-968
نویسندگان
A.C.Y. Liu, D.M. Paganin, L. Bourgeois, P.N.H. Nakashima,