کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10672525 | 1009916 | 2011 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
The beam divergence of an indium LMIS at a distance of 50 μm as determined by plasma diagnostic measurements
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠Experimental data of the beam divergence of an indium LMIS. ⺠Derived beam divergence close to needle tip from experimental data. ⺠Provision of initial conditions for ion trajectory simulations. ⺠Empiric formula for beam div. close to needle tip as function of emission current. ⺠Result is of special interest for applications without beam-limiting aperture.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issue 8, July 2011, Pages 969-972
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issue 8, July 2011, Pages 969-972
نویسندگان
I. Vasiljevich, M. Tajmar,