کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10672550 | 1009916 | 2011 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
High-angle triple-axis specimen holder for three-dimensional diffraction contrast imaging in transmission electron microscopy
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: High-angle triple-axis specimen holder for three-dimensional diffraction contrast imaging in transmission electron microscopy High-angle triple-axis specimen holder for three-dimensional diffraction contrast imaging in transmission electron microscopy](/preview/png/10672550.png)
چکیده انگلیسی
⺠A double tilt-rotate specimen holder for diffraction contrast imaging in electron tomography. ⺠Precise alignment of a diffraction condition for tilt-series acquisition of TEM/STEM images. ⺠Complete visualization of 3D dislocation arrangements by dual-axis STEM tomography.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issue 8, July 2011, Pages 1168-1175
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issue 8, July 2011, Pages 1168-1175
نویسندگان
S. Hata, H. Miyazaki, S. Miyazaki, M. Mitsuhara, M. Tanaka, K. Kaneko, K. Higashida, K. Ikeda, H. Nakashima, S. Matsumura, J.S. Barnard, J.H. Sharp, P.A. Midgley,