کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10672571 | 1009916 | 2011 | 9 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
The effect of electron range on electron beam induced current collection and a simple method to extract an electron range for any generation function
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠Effect of electron ranges on modeling electron beam induced current is shown. ⺠A method to extract an electron range for simple form of generation is proposed. ⺠For uniform generation the EBIC current is independent of the choice of it shape. ⺠Uses of the extracted electron ranges remove some existing literature ambiguity.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issue 8, July 2011, Pages 1343-1351
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issue 8, July 2011, Pages 1343-1351
نویسندگان
A. Lahreche, Y. Beggah, R. Corkish,