کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
10672580 1009916 2011 12 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Detection of buried reference structures by use of atomic force acoustic microscopy
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Detection of buried reference structures by use of atomic force acoustic microscopy
چکیده انگلیسی
► AFAM technique was used to detect buried structures of well defined geometries. ► Detection depth depends on the defect geometry, dimensions and its stiffness. ► Maximum detection depth was about 900 nm. ► Experimental results were verified by quantitative analysis and FEM simulations.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issue 8, July 2011, Pages 1405-1416
نویسندگان
, , , , , ,